Traduction de «Critical dimension scanning electron microscope » (Anglais → Français) :

TERMINOLOGIE

critical dimension scanning electron microscope | CD-SEM [Abbr.]
microscope électronique pour le contrôle dimensionnel

scanning electron microscope [ SEM | scanning electronic microscope | scanning EM ]
microscope électronique à balayage [ MEB | microscope à balayage électronique | microscope électronique à balayage de surface | microscope à balayage ]

scanning electron microscope | SEM
microscope électronique à balayage | MEB

basic scanning electron microscope
microscope à balayage classique

scanning electron microscope photograph [ SEM photograph ]
photographie en microscopie électronique à balayage [ photographie au microscope électronique à balayage ]

scanning-electron-microscope display
image de microscope à balayage électronique

scanning electron microscope | SEM [Abbr.]
microscope électronique à balayage | MEB [Abbr.]

scanning tunneling microscope | STM | scanning tunnelling microscope | scanning tunneling electron microscope | scanning tunnelling electron microscope
microscope à effet tunnel | microscope électronique à effet tunnel | microscope à balayage à effet tunnel

scanning transmission electron microscope | STEM
microscope électronique en transmission à balayage | METB | microscope en transmission à balayage | microscope électronique à balayage par transmission | MEBT | microscope à balayage par transmission

TRADUCTIONS EN CONTEXTE

9. Low Energy Electron Microscopes being electron-optical devices with an operating energy of 500 kilo-electron volts (keV) or less in which a beam of electrons, focused by means of electron lenses, is used to produce an enlarged image of a minute object on a fluorescent screen, photographic plate or any other detector-display system, including both the transmission and scanning types of devices.
9. Microscopes électroniques de faible énergie : dispositifs d’optique électronique à transmission ou à balayage, ayant une énergie de fonctionnement de 500 kilo-électronvolts (keV) ou moins, dans lesquels on utilise un faisceau d’électrons, focalisé par des lentilles électroniques, pour produire sur un écran fluorescent, une plaque photographique ou un autre système de visualisation, une image agrandie d’un objet de petite taille.

6. Fibre counting shall be carried out by PCM (phase contrast microscope) in accordance with the 1997 WHO (World Health Organisation) recommended method*, although this shall not preclude the use of other more rigorous methods, in particular the SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy – Energy Dispersive X-ray Analyser) method.
6. Le comptage des fibres est effectué par PCM (microscope à contraste de phase) conformément à la méthode recommandée par l'OMS* (Organisation mondiale de la santé) en 1997, sans préjudice de l'utilisation d'autres méthodes plus rigoureuses, à savoir la méthode SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy – Energy Dispersive X-ray Analyser) .

6. Fibre counting shall be carried out by PCM (phase contrast microscope) in accordance with the 1997 WHO (World Health Organisation) recommended method, although this shall not preclude the use of other more rigorous methods, in particular the SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy – Energy Dispersive X-ray Analyser) method.
6. Le comptage des fibres est effectué par PCM (microscope à contraste de phase) conformément à la méthode recommandée par l'OMS (Organisation mondiale de la santé) en 1997, sans préjudice de l'utilisation d'autres méthodes plus rigoureuses, à savoir la méthode SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy – Energy Dispersive X-ray Analyser).