7.2.3.4. The device being tested shall be arranged in such a way that its centre, in the highest position to which it can be raised, is 300 ± 5 mm from a support table, and the load of 50 N shall be 100 ± 5 mm from that support table.
7.2.3.4 Le dispositif à essayer est placé de telle manière que son centre, dans la position la plus élevée à laquelle il puisse être réglé, soit situé à 300 ± 5 mm au-dessus d’une table servant de base et que la charge de 50 N soit située à 100 ± 5 mm au-dessus de cette table.