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SEM
STEM
STM
Scanning Electron Microscopy
Scanning electron microscopy
Scanning surface electron microscopy
Scanning transmission electron microscopy
Scanning tunneling electron microscopy
Scanning tunneling microscopy
Scanning tunnelling electron microscopy
Scanning tunnelling microscopy
Surface electron microscopy

Vertaling van "Scanning surface electron microscopy " (Engels → Frans) :

TERMINOLOGIE
scanning electron microscopy [ SEM | surface electron microscopy | scanning surface electron microscopy ]

microscopie à balayage [ microscopie électronique à balayage | microscopie à balayage électronique | microscopie électronique à balayage de surface ]


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microscopie à effet tunnel | microscopie électronique à effet tunnel | microscopie à balayage à effet tunnel | microscopie par effet tunnel


scanning transmission electron microscopy

microscopie électronique à transmission et à balayage [ STEM | microscopie électronique à balayage et en transmission ]


scanning transmission electron microscopy | STEM

microscopie électronique en transmission à balayage | METB | microscopie en transmission à balayage | METB | microscopie électronique à balayage par transmission | MEBT | microscopie à balayage par transmission


surface electron microscopy

microscopie électronique à balayage de surface


scanning electron microscopy | SEM

microscopie électronique à balayage | MEB


scanning electron microscopy

microscopie électronique par balayage


Scanning Electron Microscopy | SEM [Abbr.]

microscopie à balayage électronique | microscopie électronique à balayage | MEB [Abbr.]


Scanning electron microscopy | SEM [Abbr.]

microscopie électronique à balayage | MEB [Abbr.]
IN-CONTEXT TRANSLATIONS
If successful it will provide a new analytical technique for transmission electron microscopy, allowing accurate measurement of magnetic properties below the surface and in multilayer materials at nanometer resolutions.

Si la méthode s'avère concluante, elle fournira une nouvelle technique d'analyse en microscopie électronique à transmission, permettant une mesure précise des propriétés magnétiques sous la surface et dans les couches multiples d'un matériau à des résolutions nanométriques.


6. Fibre counting shall be carried out by PCM (phase contrast microscope) in accordance with the 1997 WHO (World Health Organisation) recommended method*, although this shall not preclude the use of other more rigorous methods, in particular the SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy – Energy Dispersive X-ray Analyser) method.

6. Le comptage des fibres est effectué par PCM (microscope à contraste de phase) conformément à la méthode recommandée par l'OMS* (Organisation mondiale de la santé) en 1997, sans préjudice de l'utilisation d'autres méthodes plus rigoureuses, à savoir la méthode SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy – Energy Dispersive X-ray Analyser) .


6. Fibre counting shall be carried out by PCM (phase contrast microscope) in accordance with the 1997 WHO (World Health Organisation) recommended method, although this shall not preclude the use of other more rigorous methods, in particular the SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy – Energy Dispersive X-ray Analyser) method.

6. Le comptage des fibres est effectué par PCM (microscope à contraste de phase) conformément à la méthode recommandée par l'OMS (Organisation mondiale de la santé) en 1997, sans préjudice de l'utilisation d'autres méthodes plus rigoureuses, à savoir la méthode SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy – Energy Dispersive X-ray Analyser).


This is the SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy – Energy Dispersive X-ray Analyser) method.

Il s'agit de la méthode SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy - Energy Dispersive X-ray Analyser).


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This wording make unnecessary the reference to specific methods, and in particular the SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy - Energy Dispersive X-ray Analyser) method.

Ce libellé rend superflue la référence à des méthodes spécifiques, et en particulier à la méthode SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy - Energy Dispersive X-ray Analyser).




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Date index: 2024-10-17
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