Vertaling van "electron microscope " (Engels → Frans) :

TERMINOLOGIE

scanning electron microscope [ SEM | scanning electronic microscope | scanning EM ]
microscope électronique à balayage [ MEB | microscope à balayage électronique | microscope électronique à balayage de surface | microscope à balayage ]

electron microscope [ electronic microscope ]
microscope électronique

magnetic electron microscope | magnetic microscope
microscope électronique magnétique | microscope magnétique

scanning tunneling microscope | STM | scanning tunnelling microscope | scanning tunneling electron microscope | scanning tunnelling electron microscope
microscope à effet tunnel | microscope électronique à effet tunnel | microscope à balayage à effet tunnel

scanning transmission electron microscope [ STEM | scanning transmission microscope ]
microscope électronique à transmission et à balayage

electrostatic electron microscope | electrostatic microscope
microscope électronique électrostatique | microscope électrostatique

photoemission electron microscope | PEEM | photoelectron emission microscope | photoelectron microscope | PEM
microscope à photoémission d'électrons | microscope à émission de photoélectrons | microscope électronique à photoémission | microscope à photoélectrons | microscope PEEM

scanning-electron-microscope display
image de microscope à balayage électronique

electron microscopic examination
examen au microscope électronique | examen de microscopie électronique

review cell specimens microscopically | review cytological specimens microscopically | examine cell specimens microscopically | stain cell specimens
examiner des spécimens de cellules au microscope

IN-CONTEXT TRANSLATIONS

9. Low Energy Electron Microscopes being electron-optical devices with an operating energy of 500 kilo-electron volts (keV) or less in which a beam of electrons, focused by means of electron lenses, is used to produce an enlarged image of a minute object on a fluorescent screen, photographic plate or any other detector-display system, including both the transmission and scanning types of devices.
9. Microscopes électroniques de faible énergie : dispositifs d’optique électronique à transmission ou à balayage, ayant une énergie de fonctionnement de 500 kilo-électronvolts (keV) ou moins, dans lesquels on utilise un faisceau d’électrons, focalisé par des lentilles électroniques, pour produire sur un écran fluorescent, une plaque photographique ou un autre système de visualisation, une image agrandie d’un objet de petite taille.

3. Every low energy electron microscope shall be designed and constructed in such a way that it functions in accordance with the standards of functioning described in section 5 for as long as the device has its original components or has replacement components recommended by the manufacturer.
3. Chaque microscope électronique de faible énergie doit être conçu et construit de façon à fonctionner conformément aux normes de fonctionnement décrites à l’article 5 tant que le dispositif est constitué des éléments d’origine ou d’éléments de remplacement recommandés par le fabricant.

4. Every low energy electron microscope shall be designed and constructed to include the following safety features:
4. Chaque microscope électronique de faible énergie doit être conçu et construit de façon à posséder les dispositifs de sécurité suivants :

2. Every low energy electron microscope shall be designed in such a way that
2. Chaque microscope électronique de faible énergie doit être conçu

PART IXLOW ENERGY ELECTRON MICROSCOPES
PARTIE IXMICROSCOPES ÉLECTRONIQUES DE FAIBLE ÉNERGIE

the operation of radiation generators or accelerators, except electron microscopes, or radioactive sources for purposes not covered by point (a).
l'exploitation de générateurs ou d'accélérateurs de rayonnements, à l'exception des microscopes électroniques, ou de sources radioactives à des fins non visées au point a).

the use of radiation generators or radioactive sources for industrial radiography, the processing of products or research, and the use of accelerators, except electron microscopes;
l’emploi de générateurs de rayonnements ou de sources radioactives à des fins de radiographie industrielle, de traitement de produits ou de recherche et l’emploi d’accélérateurs autres que les microscopes électroniques;

6. Fibre counting shall be carried out by PCM (phase contrast microscope) in accordance with the 1997 WHO (World Health Organisation) recommended method*, although this shall not preclude the use of other more rigorous methods, in particular the SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy – Energy Dispersive X-ray Analyser) method.
6. Le comptage des fibres est effectué par PCM (microscope à contraste de phase) conformément à la méthode recommandée par l'OMS* (Organisation mondiale de la santé) en 1997, sans préjudice de l'utilisation d'autres méthodes plus rigoureuses, à savoir la méthode SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy – Energy Dispersive X-ray Analyser) .

6. Fibre counting shall be carried out by PCM (phase contrast microscope) in accordance with the 1997 WHO (World Health Organisation) recommended method, although this shall not preclude the use of other more rigorous methods, in particular the SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy – Energy Dispersive X-ray Analyser) method.
6. Le comptage des fibres est effectué par PCM (microscope à contraste de phase) conformément à la méthode recommandée par l'OMS (Organisation mondiale de la santé) en 1997, sans préjudice de l'utilisation d'autres méthodes plus rigoureuses, à savoir la méthode SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy – Energy Dispersive X-ray Analyser).