Vertaling van "reflected beam " (Engels → Frans) :

TERMINOLOGIE

reflected beam photo-electric detector
détecteur photo-électrique à faisceau réfléchi

reflected beam
rayon réfléchi

reflected beam opacimeter
opacimètre à double traversée

reflected beam photo-electric detector
détecteur photo-électrique à faisceau réfléchi [ détecteur photoélectrique à faisceau réfléchi ]

reflected beam
faisceau réfléchi

beam reflection ratio
facteur de réflexion

reflected object beam transmission hologram
hologramme par transmission à faisceau objet réfléchi

reflective display | reflective screen | reflective liquid crystal display | reflective LCD | reflective LCD screen | reflective LCD display
écran réflectif | afficheur réflectif | écran à éclairage réflectif | écran à cristaux liquides réflectif | écran ACL réflectif | écran ACL à éclairage réflectif

identify aspects to help the programmer's reflection | suggest sources to help programmer's reflection | contribute to the programmer's reflection process | contribute to the reflection process of the programmer
contribuer au processus de réflexion du responsable de la programmation

IN-CONTEXT TRANSLATIONS

By measuring how the beam is reflected, scientists can learn a great deal about the structure of a specimen at the atomic level.
En mesurant la façon dont le faisceau est réfléchi, les scientifiques peuvent apprendre énormément de choses sur sa structure au niveau atomique.

The reflected beam shall not be wider than the sensitive area of the photodetector, shall not cover less than 50 % of such area, and as nearly as possible shall cover the same area segment as used during instrument calibration.
Le faisceau réfléchi ne doit pas être plus large que la surface sensible de la cellule photo-électrique, ne doit pas couvrir moins de 50 % de cette surface et doit, si possible, couvrir la même portion de surface que le faisceau utilisé pour l'étalonnage de l'instrument.

The reflected beam shall not be wider than the sensitive area of the photodetector, shall not cover less than 50 % of such area, and as nearly as possible shall cover the same area segment as used during instrument calibration.
Le faisceau réfléchi ne doit pas être plus large que la surface sensible de la cellule photoélectrique, ne doit pas couvrir moins de 50 % de cette surface et doit, si possible, couvrir la même portion de surface que le faisceau utilisé pour l'étalonnage de l'instrument.

The photodetector shall be so located as not to receive direct light from either the incident or the reflected beam.
La cellule photo-électrique doit être placée de manière à ne pas recevoir directement la lumière du faisceau incident ou du faisceau réfléchi.

RADARSAT-1 uses a microwave radar system called " synthetic aperture radar," which beams energy at the earth and captures its return reflections in astonishing detail.
Il fait appel à un système radar à micro-ondes, le « radar à synthèse d'ouverture », qui dirige vers la Terre un faisceau d'énergie et en capte la réflexion sous forme d'images extrêmement détaillées.

(3) Synthetic aperture radar (SAR) is an advanced radar scanner that beams microwave energy at the earth and captures its returned reflection.
(3) Un radar à synthèse d’ouverture (SAR) est un capteur radar perfectionné qui envoie des impulsions vers la Terre et traite celles qui lui sont renvoyées par réflexion.

The sample and incident beam apertures in the sphere wall shall be of such a size as to admit the entire incident and reflected light beams.
Les ouvertures pratiquées dans la paroi de la sphère pour l'échantillon et le faisceau incident doivent être de taille suffisante pour laisser passer totalement les faisceaux lumineux incident et réfléchi.

On its arrival at the test surface the incident beam must have a diameter of at least 19 mm. The reflected beam must not be wider than the sensitive surface of the photoelectric cell, must not cover less than 50 % of that surface and must, if possible, cover the same portion of the surface as the beam used to calibrate the instrument.
À son arrivée sur la surface d'essai, le faisceau incident doit avoir un diamètre d'au moins 19 mm. Le faisceau réfléchi ne doit pas être plus large que la surface sensible de la cellule photo-électrique, ne doit pas couvrir moins de 50 % de cette surface et doit, si possible, couvrir la même portion de surface que le faisceau utilisé pour l'étalonnage de l'instrument.

The photoelectric cell must be positioned in such a way as not directly to receive the light from the incident or reflected beams.
La cellule photo-électrique doit être placée de manière à ne pas recevoir directement la lumière du faisceau incident ou du faisceau réfléchi.