2. A one-dimensional length "measurement uncertainty" equal to or less (better) than (1,25 + L/1000) µm tested with a probe of an "accuracy" of less (better) than 0,2 µm (L is the measured length in millimeters) (Ref.:VDI/VDE 2617 Parts 1 and 2);
2. een eendimensionale "meetonzekerheid" gelijk aan of kleiner (nauwkeuriger) dan (1,25 + L/1000) micrometer, getest met een sonde met een "nauwkeurigheid" kleiner (nauwkeuriger) dan 0,2 micrometer (L is de gemeten lengte in mm) (ref. VDI/VDE 2617, delen 1 en 2);