Traduction de «SHPL » (Anglais → Néerlandais) :

TERMINOLOGIE

super-high-power laser | SHPL [Abbr.]
Super High Power Laser | SHPL [Abbr.]

TRADUCTIONS EN CONTEXTE

b". Technology" "required" for the "development", "production" or "use" of specially designed diagnostic instruments or targets in test facilities for "SHPL" testing or testing or evaluation of materials irradiated by "SHPL" beams;
b". technologie" "noodzakelijk" voor de "ontwikkeling", de "productie" of het "gebruik" van speciaal ontworpen diagnostische instrumenten of trefplaten in testvoorzieningen voor "SHPL"-systemen ("super high power laser") of voor het testen of onderzoek van door "SHPL"-bundels bestraalde materialen;

"Super High Power Laser" ("SHPL") (6) means a "laser" capable of delivering (the total or any portion of) the output energy exceeding 1 kJ within 50 ms or having an average or CW power exceeding 20 kW.
"Superlegeringen" (2 9): legeringen op basis van nikkel, kobalt of ijzer, met sterkten hoger dan de standaardwaarden volgens de AISI 300 bij temperaturen boven 922 K (649 °C) onder zware omgevings- en gebruiksomstandigheden.

For shared aperture optical elements, capable of operating in "Super-High Power Laser" ("SHPL") applications, see the Military Goods Lists.
Zie de Lijst militaire goederen voor optische elementen met gezamenlijke opening, geschikt om te werken in "SHPL"-toepassingen ("Super-High Power Laser").

3. Optical equipment and components specially designed for a phased-array "SHPL" system for coherent beam combination to an accuracy of lambda/10 at the designed wavelength, or 0,1 µm, whichever is the smaller;
3. optische apparatuur en onderdelen, speciaal ontworpen voor een «phased array»-"SHPL"-systeem voor coherente samenvoeging van bundels met een nauwkeurigheid van het kleinste van lambda/10 bij de aangewezen golflengte, of van 0,1 micrometer;

2". Laser" diagnostic equipment capable of measuring "SHPL" system angular beam steering errors of equal to or less than 10 µrad;
2. diagnostische "laser"-apparatuur geschikt voor het meten van bundelhoekbesturingsfouten in "Super-High Power Laser" (SHPL)-systemen gelijk aan of kleiner dan 100 microradiaal;