4.3. Echelon de vérification - instruments à échelon simple 4.4. Echelon de vérification - instruments à échelons multiples dans laquelle : i = 1, 2, .r i = étendue de pesage partielle r = nombre totale d'étendues partielles 5. Etendue de mesure Lors de la spécification de l'étendue de mesure pour les instruments de la classe Y, le fabricant doit tenir compte du fait que la portée minimale ne doit pas être inférieure à : 6. Réglage dynamique 6.1. Le dispositif de réglage dynamique doit fonctionner sur une étendue de charge spécifiée par le fabricant.
4.3. IJkeenheid - instrumenten met één interval 4.4. IJkeenheid - instrument met meerdere intervallen waarbij : i = 1, 2, .r i = gedeeltelijk weegbereik r = totale aantal deelbereiken 5. Meetbereik Bij de specificatie van het meetbereik voor instrumenten van klasse Y dient de fabrikant er rekening mee te houden dat de minimumcapaciteit niet lager mag zijn dan : 6. Dynamische instelling 6.1. Deze voorziening dient een door de fabrikant gespecificeerd lastbereik te bestrijken.