Traduction de «microscopes électroniques ainsi » (Français → Néerlandais) :

TERMINOLOGIE

examen au microscope électronique | examen de microscopie électronique
elektronenmicroscopisch onderzoek

microscope électronique à balayage | MEB [Abbr.]
aftastende elektronenmicroscoop | aftastingselektronenmicroscoop | rasterelektronenmicroscoop | scanning-elektronenmicroscoop | REM [Abbr.] | SEM [Abbr.]

microscope électronique à haute tension
hoogspanningsmicroscoop | hoogspanningsmikroskoop

TRADUCTIONS EN CONTEXTE

L'avis de l'Agence fédérale de Contrôle nucléaire est demandé et elle peut rendre un avis sur les établissements suivants : 1° les établissements de classe I, visés à l'article 3.1, a) du RGPRI ; 2° les établissements visés à l'article 3.1, b), 1, du RGPRI ; 3° les établissements de classe II, visés à l'article 3.1, b) du RGPRI, où se trouvent un ou plusieurs accélérateurs de particules utilisés à des fins de recherche ou pour la production de radionucléides, à l'exception des microscopes électroniques, ainsi que les établissements où ces accélérateurs de particules sont fabriqués ou testés ; 4° les établissements de classe II, visés à l'article 3.1, b) du RGPRI, où se trouvent des installations d'irradiation avec une source dont l'activité est égale ou supérieure à 100 TBq, à l'exception des unités d'irradiation pour le traitement des patients et à l'exception des sources qui restent dans leur blindage en toutes circonstances ; 5° les établissements de classe II, visés à l'article 3.1 b) du RGPRI, où des substances radioactives sont conditionnées pour la vente en quantités industrielles.
Het Federaal Agentschap voor Nucleaire Controle wordt om advies verzocht en kan advies verlenen over de volgende inrichtingen : 1° de inrichtingen van klasse I, vermeld in artikel 3.1, a), van het ARBIS; 2° de inrichtingen, vermeld in artikel 3.1, b), 1, van het ARBIS; 3° de inrichtingen van klasse II, vermeld in artikel 3.1, b), van het ARBIS, waar zich een of meer deeltjesversnellers bevinden die gebruikt worden voor onderzoek of voor de productie van radionucliden, met uitzondering van elektronische microscopen, alsook de inrichtingen waar die deeltjesversnellers worden vervaardigd of getest; 4° de inrichtingen van klasse II, vermeld in artikel 3.1, b), van het ARBIS, waar zich bestralingsinstallaties bevinden met een bron waarvan de activiteit gelijk is aan of hoger ligt dan 100 TBq, met uitzondering van bestralingseenheden voor de behandeling van patiënten, met uitzondering van bronnen die in alle omstandigheden in hun afscherming blijven; 5° de inrichtingen van klasse II, vermeld in artikel 3.1, b), van het ARBIS, waar radioactieve stoffen worden verpakt voor verkoop in industriële hoeveelheden.

b) des établissements de classe II visés à l'article 3.1.b) du Règlement général précité où se trouvent un ou plusieurs accélérateurs de particules utilisés pour la recherche ou pour la production de radionucleides (à l'exception des microscopes électroniques) ainsi que les établissements où ces accélérateurs sont produits et/ou testés;
b) de inrichtingen van klasse II bedoeld in artikel 3.1.b) van het voornoemd Algemeen Reglement waar één of meerdere deeltjesversnellers gebruikt worden voor het zoeken of voor de productie van radionucliden (uitgezonderd de electronen-microscopen) alsook de inrichtingen waar deze versnellers geproduceerd en/of getest worden;