Traduction de «integrated-circuit testes » (Anglais → Néerlandais) :

TERMINOLOGIE

integrated-circuit test clip
testklem voor geïntegreerde schakelingen

i-c tester | integrated-circuit testes
testapparaat voor geïntegreerde schakelingen

digital integrated circuits | types of integrated circuit | integrated circuit types | mixed-signal integrated circuits
soorten geïntegreerde schakelingen

engineer of integrated circuits | integrated circuit designer | analog and mixed signal design engineer | integrated circuit design engineer
chip-ontwerper | ontwerpster analoge chips | ontwerpingenieur geïntegreerde schakelingen | ontwerpster geïntegreerde circuits

analog integrated circuit | analogue integrated circuit | linear integrated circuit
lineaire geïntegreerde schakeling

in-circuit test conducting | in-circuit test performing | perform in-circuit test | performing in-circuit test
in-circuittest uitvoeren

electronic component [ electronic tube | integrated circuit | microchip | microprocessor | semi-conductor | transistor ]
elektronisch onderdeel [ chip | elektronenbuis | geheugencomponent | geïntegreerd circuit | halfgeleider | microprocessor | transistor ]

Application Specific Integrated circuit | ASIC
ASIC | Toepassingsspecifieke geïntegreerde schakeling

HIC | Hybrid integrated circuit
Hybride geïntegreerde schakeling

TRADUCTIONS EN CONTEXTE

The operation of diffusion, in which integrated circuits are formed on a semi-conductor substrate by the selective introduction of an appropriate dopant, whether or not assembled and/or tested in a non-party
Diffusie, waarbij geïntegreerde schakelingen worden gevormd op een halfgeleidersubstraat door de selectieve inbrenging van een geschikt doteringsmateriaal, al dan niet geassembleerd en/of getest in een niet-partij

8542 31 to 8542 33 and 8542 39 | Monolithic integrated circuits | Manufacture from materials of any heading, except that of the product or The operation of diffusion, in which integrated circuits are formed on a semi-conductor substrate by the selective introduction of an appropriate dopant, whether or not assembled and/or tested in a non-party | Manufacture in which the value of all the materials used does not exceed 45 % of the ex-works price of the product |
8542 31 t/m 8542 33 en 8542 39 | Monolithische geïntegreerde schakelingen | Vervaardiging uit materialen van een willekeurige post, met uitzondering van die van het product of de diffusie (waar geïntegreerde schakelingen worden gevormd op een halfgeleidersubstraat door de selectieve inbrenging van een geschikt doteringsmateriaal), al of niet geassembleerd en/of getest in een ander land dan de partijen. | Vervaardiging waarbij de waarde van alle gebruikte materialen niet hoger is dan 45 % van de prijs af fabriek van het product. |

– Monolithic integrated circuits | Manufacture in which: the value of all the materials used does not exceed 40 % of the ex-works price of the product, andwithin the above limit, the value of all the materials of headings 8541 and 8542 used does not exceed 10 % of the ex-works price of the productor The operation of diffusion, in which integrated circuits are formed on a semi-conductor substrate by the selective introduction of an appropriate dopant, whether or not assembled and/or tested in a country or territory other than those specified in Articles 3 and 4 | Manufacture in which the value of all the materials used does not exceed 25 % of the ex-works price of the product |
– monolithische geïntegreerde schakelingen | Vervaardiging waarbij: de waarde van alle gebruikte materialen niet meer bedraagt dan 40 % van de prijs af fabriek van het product, enbinnen de hierboven gestelde beperking, de waarde van alle gebruikte materialen van posts 8541 and 8542 niet meer bedraagt 10 % van de prijs af fabriek van het productof de diffusie (waar geïntegreerde schakelingen worden gevormd op een halfgeleidersubstraat door de selectieve inbrenging van een geschikt doteringsmateriaal), al of niet geassembleerd en/of getest in een ander land dan die genoemd in de artikelen 3 en 4 | Vervaardiging waarbij de waarde van alle gebruikte materialen niet meer bedraagt dan 25 % van de prijs af fabriek van het product |

– proximity cards and "smart cards" with two or more electronic integrated circuits | Manufacture in which: the value of all the materials used does not exceed 40 % of the ex-works price of the product, andwithin the above limit, the value of all the materials of headings 8541 and 8542 used does not exceed 10 % of the ex-works price of the productor The operation of diffusion, in which integrated circuits are formed on a semi-conductor substrate by the selective introduction of an appropriate dopant, whether or not assembled and/or tested in a country other than those specified in Articles 3 and 4 | Manufacture in which the value of all the materials used does not exceed 25 % of the ex-works price of the product |
– naderingskaarten en "smart cards" met twee of meer elektronisch geïntegreerde schakelingen | Vervaardiging waarbij: de waarde van alle gebruikte materialen niet meer bedraagt dan 40 % van de prijs af fabriek van het product, enbinnen de hierboven gestelde beperking, de waarde van alle gebruikte materialen van posts 8541 and 8542 niet meer bedraagt 10 % van de prijs af fabriek van het productof de diffusie (waar geïntegreerde schakelingen worden gevormd op een halfgeleidersubstraat door de selectieve inbrenging van een geschikt doteringsmateriaal), al of niet geassembleerd en/of getest in een ander land dan die genoemd in de artikelen 3 en 4 | Vervaardiging waarbij de waarde van alle gebruikte materialen niet meer bedraagt dan 25 % van de prijs af fabriek van het product |

b. For testing integrated circuits capable of performing functional (truth table) testing at a 'pattern rate' of more than 333 MHz;
b. voor het testen van geïntegreerde schakelingen en geschikt voor het functioneel testen («truth table testing») met een 'patroonsnelheid' hoger dan 333 MHz;

b. For testing integrated circuits capable of performing functional (truth table) testing at a "pattern rate" of more than 333 MHz;
b. voor het testen van geïntegreerde schakelingen en geschikt voor het functioneel testen ("truth table testing") met een "patroonsnelheid" hoger dan 333 Hz;